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其他產(chǎn)品及廠家

USB2.0出租Tektronix USB2.0測試夾具

出租tektronix usb2.0測試夾具

更新時間:2024-12-28

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

TY插座保護門試驗探針1N試驗探針保護門試驗探針

插座保護門試驗探針/1n試驗探針基本簡介：1、根據(jù)gb2099.1-2008,gb8898-97及相關(guān) iec等相應條款制作而成。2、試驗探針是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。

更新時間:2024-12-28

該公司產(chǎn)品分類：深圳市通源儀器有限公司

TY－Z07標準試驗指甲測試指甲試驗指甲

標準試驗指甲測試指甲基本簡介：1、根據(jù)gb4706.1-2005、iec60335-1及 ul等標準制作而成。2、試驗指甲主要針對電擊或接觸運動部件的不可拆卸零件能否經(jīng)受得住正常使用中出現(xiàn)的機械應力，達到規(guī)定防護等進行測試的設(shè)備。$r

更新時間:2024-12-28

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TY－112深圳標試驗指針銷GB4706.1試驗指標準試驗指棒銷

標試驗指針銷gb4706.1試驗指基本簡介：1、根據(jù)gb4706.1、gb2099.1及相關(guān) iec、 ul等相應條款制作而成。2、標準試驗指針銷是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。

更新時間:2024-12-28

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TY－UL試驗彎指UL鉸接試驗指PA100A試驗探棒

ul試驗彎指ul鉸接試驗指pa100a探棒基本簡介：1、根據(jù)ul1278、ul1026及ul507等相應條款制作而成。2、ul試驗彎指是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。

更新時間:2024-12-28

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TY－IPX34花灑式淋雨試驗裝置IPX34手持式防淋水濺水試驗裝置

ipx34花灑式淋雨試驗裝置ipx34手持式防淋水濺水試驗裝置試驗標準：符合 iec60529:2001《degrees of protection provided by enclosures(ip code)》、gb4208-2008《外殼防護等(ip 代碼)》14.2.3、14.2.4 條款與圖 5

更新時間:2024-12-28

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TY-IEC61032試驗探棒GB4706.1全套試驗指標準試驗指

iec61032試驗探棒gb4706.1全套試驗指基本簡介：1、根據(jù)iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應條款制作而成。2、試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。

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TY－兒童試驗彎指19號試驗探棒試具19

深圳兒童試驗彎指/19號試驗探棒基本簡介：1、根據(jù)gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應條款制作而成。2、19號兒童試驗彎指（19號試驗探棒）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。

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E27燈頭溫升試驗鎳圈E14燈頭溫升試驗鎳圈E39溫升試驗燈座

燈頭溫升試驗鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360：2002相關(guān)燈頭溫升測試標準要求制作而成。成分：ni純度99.6%以上的日本進口純鎳；結(jié)構(gòu)和特性：材料的晶粒應精細且有規(guī)則結(jié)構(gòu)，晶粒度：zui小值為astm8(zui大不超過0.019

更新時間:2024-12-28

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TYIPX56防噴水試驗噴頭IPX6強噴水試驗裝置

ipx56防噴水試驗噴頭/ipx6強噴水試驗裝置ipx5防噴水試驗噴嘴一、產(chǎn)品概述：防噴水試驗裝置是依據(jù)gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標準的相關(guān)條款要求制作，用于對具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進行測試

更新時間:2024-12-28

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TY－12.5mm試驗探棒IP20C試驗探棒12.5試驗探球

12.5mm試驗探棒|ip20c試驗探棒基本簡介：1、根據(jù)din40050等相應條款制作而成。2、12.5mm試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。

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TY-T03彈簧沖擊器IK碰撞能量試驗裝置0.5J彈簧沖擊錘

彈簧沖擊器/ik碰撞能量試驗裝置基本簡介：1、根據(jù)iec60068-2-75、gb/t2423.55-2006、gb4706.1、gb8898和gb7000、 iec884及ul1244等相應條款制作而成，主要用于檢驗家用和類似電器產(chǎn)品的外殼、操作桿、手柄、旋鈕、指示燈等外殼承受機械沖擊的能。2、本沖擊器外殼采用鋁制作。

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TY－配電柜3C檢測用IP4X試具IP40試驗探針I(yè)P4X試驗探棒

配電柜3c檢測用ip4x試具/ip40試驗探針基本簡介： 1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、d類試驗探棒（d類試驗針）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。

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TY－IP10試驗探棒IP1X試驗探球試具A鋼球探棒

ip10試驗探棒/ip1x試驗探球基本簡介：1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、a類試驗探棒（a類試驗探球）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。

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U7242-26401出租Agilent安捷倫USB3.0測試夾具，硬件測試，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401

更新時間:2024-12-28

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7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

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ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

更新時間:2024-12-28

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EMMC 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

emmc 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

更新時間:2024-12-28

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EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試

emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。

更新時間:2024-12-28

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EMMC4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

emmc4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。

更新時間:2024-12-28

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Emmc5 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。

更新時間:2024-12-28

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EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。

更新時間:2024-12-28

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EMMC5 復位測試 CLK測試 DQS測試

emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。

更新時間:2024-12-28

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EMMC5 復位測試 CLK測試

emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。

更新時間:2024-12-28

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EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試

emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。

更新時間:2024-12-28

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電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試

更新時間:2024-12-28

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相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。

更新時間:2024-12-28

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試電源紋波測試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試

更新時間:2024-12-28

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電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試

更新時間:2024-12-28

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控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。

更新時間:2024-12-28

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數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

更新時間:2024-12-28

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試，眼圖測試

clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。

更新時間:2024-12-28

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數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。

更新時間:2024-12-28

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I復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。

更新時間:2024-12-28

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PCIE2.0 3.0 驗證調(diào)試和一致性測試解決方案

遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常

更新時間:2024-12-28

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PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試

cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

更新時間:2024-12-28

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PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送物理層一致性測試

pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。

更新時間:2024-12-28

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PCIE2.0 3.0 RX 接收物理層一致性測試

pcie2.0 3.0 rx 接收物理層致性測試當pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。

更新時間:2024-12-28

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PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端信號質(zhì)量一致性測試

pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題

更新時間:2024-12-28

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pcie2.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x4 眼圖測試物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。

更新時間:2024-12-28

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pcie2.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x8 眼圖測試物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。

更新時間:2024-12-28

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Pcie1.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x4 眼圖測試物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.

更新時間:2024-12-28

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Pcie1.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x8 眼圖測試物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。

更新時間:2024-12-28

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Pcie1.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x16 眼圖測試物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。

更新時間:2024-12-28

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Pcie3.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x4 眼圖測試物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設(shè)計時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。

更新時間:2024-12-28

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Pcie3.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x8 眼圖測試物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。

更新時間:2024-12-28

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Pcie3.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x16 眼圖測試物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真致。如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善，只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。

更新時間:2024-12-28

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HA405-DPA-SC-S8/120梅特勒電極（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）

梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）硬件開放實驗室開放實驗室儀器租賃

更新時間:2024-12-28

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

EMMC 上電時序測試電源紋波測試

emmc 上電時序測試電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。

更新時間:2024-12-28

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EMMC 時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

emmc 時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。

更新時間:2024-12-28

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