產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款上照式x射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的x/y/z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進行快速對焦分析。能更好地滿足半導體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
更新時間:2025-01-13