芯片卡反復(fù)循環(huán)滾壓測試儀 根據(jù)master 卡cqm項目對卡進(jìn)行三輪測試,適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測試,將芯片卡放在機(jī)器測試滾輪之間,三輪滾壓測試儀將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環(huán)頻率為0.5hz,并在芯片上加一個8n的力,經(jīng)過往復(fù)循環(huán)測試后驗證icc觸點芯片功能是否正常。三輪滾壓測試儀測試儀配有額外的一個15n砝碼用
更新時間:2024-12-27