s-snom技術(shù)使用金屬鍍層的原子力(afm)探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來(lái)增強(qiáng)樣品的納米尺度區(qū)域的散射,散射信號(hào)可以在遠(yuǎn)場(chǎng)被檢測(cè)到。而這些散射信號(hào)攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區(qū)域的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)。具體而言,這些散射光的信息包括光的振幅和相位,通過(guò)適當(dāng)?shù)哪P,這些測(cè)量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學(xué)常數(shù)(n,k)。在某些情況下,光學(xué)相位與波長(zhǎng)還提供了個(gè)與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息
更新時(shí)間:2024-12-26