儀器介紹
EXF-10B是集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
可以滿足微小測試點的需求,最小可達0.2mm
高精度移動平臺可精確定位測試點.
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
技術指標
型號:EXF-10B
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm,最薄可測試0.005μm。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
工作溫度:15℃至30℃ 濕度:≤80%
電源: 交流220V±5V
外型尺寸:670mm×470mm×370mm
測量倉:520mm×370mm×105mm
重量:45kg
標準配置
精密二維移動樣品平臺。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機
彩色打印機
應用領域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業(yè)。
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梳式測厚儀是尺狀的,在六面都有支撐基點,每個面均有不同長度的齒。測量時,將量程范圍與漆膜估計厚度相近的那個面垂直地壓入濕膜。測量范圍:25-3000μm
涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標準箔校準。
技術特征型號 1100 2100 3100 4100MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設寬容度極限值) 1 10 99可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) 1 500 500數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000MINITEST統(tǒng)計計算功能 讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar √ √ √讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cp √ √ 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar √ √ 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √ √ 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)據(jù) √ 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 √ √ 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 √ √ √ 其他功能 設置極限值 √ √ 連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值 √ √ 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
√ √ 連續(xù)測量模式中顯示最小值 √ √ 可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
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Ø 通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現(xiàn)在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
Ø 微區(qū)膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
Ø 多達5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。
Ø 廣域觀察系統(tǒng)(選配) 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。
Ø 對應大型印刷線路板(選配) 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。
Ø 低價位 與以往機型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價格。
性能\型號 | TT100 | TT100a | TT110 | TT120 | TT130 |
測量范圍 | 0.75~300.00㎜(鋼,由探頭決定) | ||||
顯示分辨率 | 0.1㎜ | 0.01㎜ | |||
背光顯示 | 無 | 有 | 無 | ||
聲速范圍 | 1000~9999m/s | 5900m/s | 1000~9999m/s | ||
工件表面溫度 | .-10~+60℃ | .-10~+300℃ | .-10~+60℃ | ||
顯 示 | 4位LCD | ||||
測量精度 | ±(1%H+0.1)㎜ H為被測物實際厚度 | ||||
管材測量下限 | ⊙20㎜×3.0㎜(鋼,由探頭決定) | ||||
探頭直徑 | ⊙6㎜(選配),⊙10㎜(標配),⊙12㎜(選配) | ||||
校 準 | 4.0㎜(鋼) | ||||
電壓指示 | 低電壓提示 | ||||
電 源 | AA型堿性1.5V電池(2節(jié)) | ||||
操作時間 | 連續(xù)操作可達250小時 | ||||
外形尺寸 | 126㎜×68㎜×23㎜ | ||||
重 量 | 170g | ||||
標準配置 | 主機,5MHz探頭,4.0㎜鋼校準塊,AA型堿性電池,耦合劑 | ||||
可選附件 | 2.5MHz探頭(3~300㎜),7MHz探頭(0.75~60㎜) |
超聲波探傷儀、測厚儀、硬度計
EPOCH 4型數(shù)字超聲波探傷儀
EPOCH XT超聲波探傷儀
EPOCH LT超聲波探傷儀
EPOCH 4PLUS 超聲波探傷儀
EPOCH 4B 經(jīng)濟型超聲探傷儀
MG2 MG2-XT MG2-DL超聲波測厚儀
26MG 26MG-XT 26XTDL系列超聲波測厚儀
Model 25超聲波測厚儀
25HP PLUS超聲波測厚儀
25DL PLUS超聲波測厚儀
37DL PLUS 超聲波腐蝕厚度測量儀
QuaNix4200、QuaNix4500、QuaNix1200、QuaNix1500、QuaNix7500、QuaNix8500、QuaNixkeyless涂層測厚儀
HARTIP1000 、HARTIP1500、 HARTIP3000硬度計
TDS-100超聲波流量計
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儀器特點:搭載MS-WINDOWS系統(tǒng)(的操作性與高精度測定)與IBM PC 相容個人電腦 使用與IBM PC相容個人電腦,采用MS-WINDOWS軟體,使用時多彩多姿。 采用二種濾波器 用用數(shù)位式濾波器外另有機械式濾波器(兩種濾波器),在測定時,若是最適當?shù)臈l件下,經(jīng)??傻玫降木取手祪x5種孔徑內藏式 最小的準值儀孔徑僅0.1 mm,可測定極微小的部品。 標準:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另備有2種特別規(guī)格可供選購。 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5自動測定測量臺 利用滑鼠來調整測量位置,非常敏捷快速。或是測量位置已完成登陸時,可連續(xù)自動測定,利用座標補正、連結頻道,來應付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標準片校正。 的顯示機能 測定部顯示盡像的表示 X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準儀照射測定物的位置,可由倍率率更機能來實現(xiàn)盡面上測出物放大。在膜厚測定中的能譜表示 由多頻分析器可快速處理能譜分析??蓤?zhí)行測定物的能譜分析表示,操作簡單。 提長資料處理的速度 充實測量報告的作成機能 采用MS-WINDOW軟件,測定畫的擷取,非常簡便,可充襯測量報告的制作機能??赏瑫r間隔處理多項工作,機器在測量中亦可處理其他工作:包括如測量報告的制作。測定物膜厚附著分布表示 以三次元圖案來表示測定物膜厚附著狀態(tài)的分布,作判定時一目了然。 獲得安心的性。 自己診斷機能及X線管保食機能 自己診斷機能,迅速的對策來排除機器的因擾。附有X線管的使用時間及耐久時間表示機能,可加強保養(yǎng)的安全性。各機型規(guī)格參數(shù):
機型 | 手動測量臺 | 自動測量臺 | ||
測量主體 | 測量臺尺寸(mm) | 170*110 | 240*220 | |
移動量 | X(mm) | 70 | 200 | |
Y(mm) | 70 | 200 | ||
Z(mm) | 50(最大150) | 50 | ||
測定物最大高度(mm) | 50(option 150) | 50 | ||
尺寸(mm) | 602(W)*463(D)*732(H) | |||
重量(kg) | 55 | 61 | ||
樣品最大何重(kg) | 3 | 1 | ||
電腦 | 尺寸(mm) | 本體182(W)*383(D)/顯示幕412(W)*415(D)*432(H) | ||
電腦重量(kg) | 本體9/顯示幕16 | |||
印表機 | 重量(kg) | 5.2 | ||
電源 | AC100V±10V(option AC115V、AC230 |
儀器詳細介紹:
1. X線源 | 油浸式1.2mA小型微小焦點X線管. 50kV管電壓,可變管電壓。 | |
2. 照射方式 | 由上而下垂直照射方式。 | |
3. 檢出器 | 比例計數(shù)管。 | |
4. 濾波器 | 採用 Co 和 Ni 雙濾波器及數(shù)位式濾波器,可單一或同時使用。 | |
5. 準直儀 | Collimator 採用五種孔徑一體成型式,可自動切換使用。0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0 ψ㎜.(選購) 0.05 ×0.5, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5 ψ㎜.(選購) 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5 ψ㎜. | |
6. 樣品觀測系統(tǒng) | 彩色CCD及高畫質顯示幕。 | |
7. 譜分析器 | 使用256高頻分析器,光譜自動分析,在執(zhí)行測量及運算時,非??焖?。 | |
電腦操作部: | 8. 電腦系統(tǒng)(※僅供參考) | IBM 相容中文個人電腦. CPU:Intel Celeron 1GHz. RAM:128 MB.Floppy Disk:3.5 ×1, 40倍速 CD-ROM ×1.Hard Disk:40 GB.17" 高畫質顯示幕.EPSON彩色噴墨式印表機。 |
9. 本機型(COSMOS-1X系列)之操作系統(tǒng)採中文視窗(Windows98)對話式操作,非常簡便。 | ||
特性說明: | 10. 測量項目 | 單層膜厚測定. 2層膜厚測定. 3層膜厚測定. 無電解鎳膜厚測定. 合金膜厚成份比同時測定. 元素的光譜峰值測定分析. |
11. 測量材質 | 原子序22(Ti) ~ 82(Pb)為激發(fā)法測量。 原子序22以下為吸收法測量。 | |
12. 測量範圍 | 原子序22 ~ 24 , 約 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 , 約 0.1 ~ 30 um. 原子序41 ~ 51 , 約 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 , 約 0.05~ 10 um. | |
13. 測量機能 | 同一點重複測定機能 輸出形式設定.能譜測定. | |
14. 測量條件或膜厚規(guī)格可以保存 | 當要測量相同的製品時,若測量條件已儲存,可以馬上進行測量。最大檢量線檔案數(shù):可登錄儲存100組檔案。最大測量檔案數(shù) :可登錄儲存300組檔案。 | |
15. 檔案記錄 | 每一個批號可儲存無限個測量資料.(因所使用的電腦之容量大小而定)每一個測量檔案可輸入及儲存公司名稱.每個批號可單獨執(zhí)行統(tǒng)計處理.每個測量檔案可輸入不同的檢量線(校正曲線). | |
16. 資料處理 | 統(tǒng)計值表示:平均值、標準偏差、最大值、最小值、上下限值範圍、Cp、Cpk。X-R 管制圖.柱狀圖:有自動設定及自己任意設定二種方式??刹噬杏∮^物顯示幕上所觀測之圖像。 | |
17. 底材補正 | 當樣品與標準片的底材不同時,可作底材補正。 | |
18. 觀物顯示幕 | 十字刻度線的高解析度彩色觀物顯示幕 | |
安全裝置. | 19. 本機俱有自動安全斷電系統(tǒng)功能. | |
20. 由鎖匙開關來控制X 線輸出,以防止外人任意操作. | ||
其他機能. | 21. 密碼辨識功能 | |
22. 裝置維護調整 | ||
23. 測量部主機 | 尺寸:362(W) ×425(D) ×486(H) ㎜.重量:約 44.2 Kg. | |
24. 操作部:(※僅供參考) | 電腦尺寸:180(W) ×420(D) ×360(H) ㎜.重量:約 8.8 Kg.顯示幕尺寸:360(W) ×420(D) ×370(H) ㎜.重量:約16.5 Kg.印表機尺寸:500(W) ×250(D) ×300(H) ㎜.重量:約 4.3 Kg. | |
X-Y-Z軸可移動式測量臺 | 25. 測量臺尺寸及移動量. | 測量臺尺寸 170 (W) ×100 (D) ㎜移動量(X-Y-Z軸) 70 ×70 ×50 ㎜. |
26. 測量樣品限制 | 樣品限制高度: 45㎜樣品限制重量: 3 Kg. | |
使用電源. | 27. 電壓 | AC100V ±10V ; 50/60Hz(選購) AC110V, AC220V. |
28. 容量 | 700V |
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產(chǎn)品質量控制提供、快速的分析?;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定??赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。