防水卷材測厚儀根據(jù):GB18242-2000及GB18243-2000標準要求專為防水卷材厚度測量而設(shè)計制造,結(jié)構(gòu)簡單,使用方便,可隨身攜帶,手持測量
防水卷材測厚儀:
1、本儀器不可臥式測量。
2、使用完畢后,用儀器罩罩好,以防塵土,防止受潮
防水卷材測厚儀主要技術(shù)指標
1、測量范圍:0-10mm;
2、上測直徑:Φ100.05m ;
3、精 度 值:0.01mm ;
4、施加壓力:0.02MPa
防水卷材測厚儀使用方法:
1、測試前先對準表的零位,并撥動操縱桿試幾次,回零后再進行測試,操作時要輕提輕放,以免損壞平臺,測足及儀表。
2、用手指按下操縱桿,使測足上臺,將被測片材質(zhì)放在平臺與測足之間,輕放操縱桿此時表的讀數(shù),即被測物的厚度。每個待測尺寸至少要取5個測量值,計算5點的平均值作為該卷材的厚度并報告最小單位值。
防水卷材測厚儀操作規(guī)程:
1)、首先調(diào)整防水卷材測厚儀測量壓板的底平面與支座的上平面平行。
。2)、準備被測試樣小樣。
(3)、根據(jù)被測試樣的厚度選用相應(yīng)的基準塊進行組合做為測量基準(注:基準塊可根據(jù)被測試樣的高度任意組合)。
(4)、將組合好的基準塊放在支座上,松開立柱鎖緊手柄,上、下調(diào)整支架,使百分表下端的測量壓板壓在基準塊上,并使百分表有0.2mm的預緊量,然后鎖緊立柱鎖緊手柄,并記錄此時百分表讀數(shù),抬起測量壓板,移去基準塊。
。5)、平穩(wěn)地抬起防水卷材測厚儀測量壓板,將一塊已備好的被測小樣放在測量壓板與支座之間,輕輕地放下測量壓板使其與試樣接觸。待測厚儀指針穩(wěn)定后記錄百分表此時的讀數(shù),然后計算此小樣的實際厚度。
。6)、重復步驟5測量其余三個小樣的厚度,并計算4個小樣厚度的算術(shù)平均值作為該試樣的厚度。對于厚度測量需要包括貼面層的試樣,應(yīng)將貼面層向下放置。但若是金屬網(wǎng)貼面,則應(yīng)將金屬網(wǎng)去除后再進行測量。
CH-D型皮革測厚儀 | |
CH-D型皮革測厚儀 一、 概述 本測厚儀主要用于發(fā)泡人造革及軟皮革制品厚度的測量。本儀器結(jié)構(gòu)簡單,使用方便,讀數(shù)直觀,能大跨度測量,本儀器執(zhí)行JB/T10035-1999標準。 二、主要參數(shù) 1.量程:0-10mm 2.分度值:0.01mm 3.測量深度:120mm 4.測頭直徑:φ10mm |
DJLC-A 樓板測厚儀 | |
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產(chǎn)品說明: | 具有鑄件測試功能 顯示分辨率:0.1mm 適合測量金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何 超聲波的良導體的厚度 大屏幕LCD背光顯示,可調(diào)對比度 測量單位米制/英制可選 具有最小值捕捉模式 可存儲、刪除、查看500個測量值 已知厚度反測聲速,二點校準,能提高精度技術(shù)參數(shù): 測量范圍: 5.0mm~40.0mm(鑄鐵)5~300.0mm(鋼) 顯示分辨率: 0.1mm 測量精度: ±(1%H+0.1)mm H為被測物實際厚度 探頭調(diào)配: 可選5PФ10探頭、TSTU32探頭 其他功能參數(shù)與TT320相同基本配置: 主機 1 5PФ10探頭 1 TSTU32探頭 1 AA型堿性電池 2 耦合劑 1 主機保護套 1 使用說明書 2 手提箱 1可選件: TSTU32低頻率高功率探頭 1 5PФ10標準探頭 標準試塊 |
一、產(chǎn)品概述:HC-2000系列型涂層測厚儀(鍍層測厚儀)是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全
量程測量、體積小、重量輕;且具有存儲、讀出、統(tǒng)計、低電壓指示、系統(tǒng)校準,其性能達到當代國際同類儀器的水平。應(yīng)用范圍:涂層測厚儀儀器采用磁性測厚法,可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀
器廣泛應(yīng)用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。工作原理 :HC-2000系列型涂鍍層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂鍍層厚度。二、產(chǎn)品性能1、測量范圍:0~1200um(HC-2000A) 0~5000um(HC-2000C) 0~9000um(HC-2000D)2、測量誤差: <3%±1um3、最小示值: 1um4、顯示方式: 4位液晶數(shù)字顯示5、主要功能:(1).測量: 單探頭全量程測厚(2).存儲、刪除: 可存入測量數(shù)據(jù)600個,對測量中的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可以刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。(3).讀: 讀出已存入的測量數(shù)據(jù)(4).統(tǒng)計: 設(shè)有三個統(tǒng)計量,平均值最大值最小值(5).校準: 可進行系統(tǒng)校準(6).電量: 具有欠壓顯示功能(7).打。 可打印測量值,選配微型打印機(8).關(guān)機: 具有自動關(guān)機和手動關(guān)機兩種方法6、電源: 兩節(jié)1.5v電池7、功耗: 最大功耗100mw8、外形盡寸: 51mm*126mm*27mm9、重量: 160g(含電池)10、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃ 相對濕度:不大于90%11、基體最小厚度: 0.5mm12、基體最小平面的直徑: 7mm13、最小曲率半徑: 凸:1.5mm 凹:6mm14、欠電壓指示: 右上角顯示""*臨界厚度。汗ぜF基厚度大于1mm時,其涂(鍍)層厚度的測量不受鐵基厚度
CMI900 X熒光鍍層測厚儀特點:● 精度高、穩(wěn)定性好 ● 強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能 ● 測量范圍寬 ● X熒光鍍層測厚儀NIST認證的標準片 ● 全球服務(wù)及支持
CMI900 X熒光鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù): X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準? 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 準直器程控交換系統(tǒng)X熒光鍍層測厚儀最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器 多種規(guī)格尺寸準直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20 mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等? 測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)樣品室結(jié)構(gòu): 開槽式樣品室 最大樣品臺尺寸: 610mm x 610mm XY軸程控移動范圍: 標準:152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 Z軸程控移動高度:? 43.18mm XYZ三軸控制方式: X熒光鍍層測厚儀多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 樣品觀察系統(tǒng):高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計算機系統(tǒng)配置: IBM計算機,惠普或愛普生彩色噴墨打印機 分析應(yīng)用軟件:? 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺, 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 測厚范圍:?可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。 CMI900 X熒光鍍層測厚儀基本分析功能:采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標準樣品。 樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍:Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測,如Au karat評價 材料和合金元素分析,材料鑒別和分類檢測液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析調(diào)整和校正功能: 系統(tǒng)自動整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移 測量自動化功能鼠標激活測量模式:“PointShoot” 多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 測量位置預覽功能 激光對焦和自動對焦功能 樣品臺程控功能: 設(shè)定測量點, 連續(xù)多點測量, 測量位置預覽(圖表顯示)X熒光鍍層測厚儀統(tǒng)計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 數(shù)據(jù)庫存儲功能 任選軟件:統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 系統(tǒng)安全監(jiān)測功能Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師
ACE-2000手提式涂層測厚儀
UBand SLG-500錫膏測厚儀
非接觸式激光測厚儀是由專用激光器產(chǎn)生線型光束,以一定的傾角投射到待測量目標(錫膏)上,因為待測目標與周圍基板存在高度差,此時觀測到的目標和基板上的激光束相應(yīng)出現(xiàn)斷續(xù)落差,如圖1-1 所示。根據(jù)三角函數(shù)關(guān)系可以通過該落差間距計算出待測目標截面與周圍基板的高度差,從而實現(xiàn)非接觸式的快速測量。
產(chǎn)品特性
1.Windows視窗界面,操作簡單;
2.測量值可記錄存檔及打。
3.測量數(shù)值無誤;
4.可隨電路板厚度的不同調(diào)整焦距;
5.機身小巧靈活,移動方便。
適用:
1.各種厚度、寬度與長度的測量與統(tǒng)計分析;
2.錫膏印刷制程品管的檢查;
3.錫膏印刷成型后的尺寸量測;
4.在允許測量范圍內(nèi)同樣適用與其它物品的測量與檢驗;
功能:
1.測量厚度、長度、寬度、間距、直徑、角度;
2.提供高度分布數(shù)值;
3.不同錫膏厚度的分析與控制;
4.測量結(jié)果的單點及多點列表;
5.X-Bar管制圖,Range管制圖;
6.Cp,Cpk管制圖及統(tǒng)計報表。
規(guī)格參數(shù):(桌面式)
測量原理:非接觸紅外線鐳射光源
可視范圍:6.4 X 5.1 mm 檢測范圍:高度,長度,角度,圓周 光源:LED
工作臺尺寸:480×500mm
重復測量精度:0.001mm
相機:320萬(CCD相機)高色素彩色相機
電腦:Intel Duo Core, Windows O/S
單位:Inch, mm, mils, Microns
統(tǒng)計表:X-Bar, Range, Cp, Cpk
電源:AC 200V ~ 240V, single phase, 50/60Hz,達式
環(huán)境 :溫度: 10 ~ 40°C ,濕度: 30 ~ 80% RH
尺寸:(W x D x H) 480 x 450 x 300 mm(L*W*H)
軟件需求:
Windows 2000 (Service Pack 4),Windows XP (Service Pack 1)
軟件操作界面
這是一個基于檢查和測量的工具。它通過X,Y和Z軸進行測量,通過Z軸測量的數(shù)據(jù)將實時統(tǒng)計到SPC結(jié)果中。它允許導出數(shù)據(jù)(文本或Excel格式)和圖片。用戶可以自行設(shè)置任意產(chǎn)品類型的SPC極限。通過對產(chǎn)品進行測量, 所得結(jié)果與對應(yīng)產(chǎn)品類型的SPC極限比較, 給出' Pass'(通過) 或‘Fail'(失敗) 結(jié)果。除標準的X,Y和Z測量容易掌握外,還提供幾何測量功能,它能使直徑和角度測量更快,更容易!