AFM原子力顯微鏡
原子力顯微鏡
晶體掃描儀(Crystal Scanner TM)是美國PNI公司開發(fā)的一種新穎的掃描儀。使用該掃描儀，無需知道更多掃描探針顯微學(SPM)知識的人士便可獲得納米范圍的形貌像。晶體掃描儀的核心是一種新型的無需復雜光路調(diào)整(Alignment)過程的力傳感器。它能夠進行納米結構的成像和分析。 使用裝有晶體掃描儀的Nano-R TM原子力顯微鏡(AFM)，工程師和科學工作者無需等候獲得掃描的納米結構圖像，而是直接測量物體的形貌像。公司和研究機構也不用雇傭AFM專家，這樣可為納米技術的研究、發(fā)展和工藝控制節(jié)省大量的成本。 晶體掃描儀在納米牛頓力測量領域內(nèi)注入了新的設計理念。將該掃描儀與Nano-R TM型AFM的測試臺和軟件相結合，便可以得到一個新的用戶友好接口的納米成像儀器。尤其是，當配合點和掃描(Point & Scan TM)技術，將大大簡化儀器的操作過程。
原子力顯微鏡
點和掃描技術 點和掃描技術大大減少了傳統(tǒng)系統(tǒng)軟件的復雜性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成測試。幾步操作后，實驗人員便可以在計算機屏幕上看到圖像。 點和掃描技術使用標準的納米成像操作步驟。步驟如下：
選擇樣品類型；
將樣品放置于顯微鏡下；
如有必要，更換晶體傳感器(只需幾分鐘)；
選擇要掃描的樣品區(qū)域；
成像操作。
上述的納米成像過程同樣可以分析DVD和半導體器件結構以及對納米管、納米粒子和納米晶體進行高分辨的納米成像。 點和掃描技術包括3個方面的創(chuàng)新性：晶體傳感器，測試臺的自動化和軟件。
晶體傳感器
晶體掃描儀里的力傳感器是一種非常小的晶體振蕩器，在其晶體的末端裝有針尖，如圖1和2所示。當探針靠近樣品表面時，其振蕩的振幅將衰減。衰減的幅度取決于探針和樣品之間的作用力。掃描時，使用軟件可以優(yōu)化振蕩頻率和力的大小。使用時，晶體傳感器無需任何力的調(diào)整。 
圖1晶體掃描儀中的石英交叉晶體 圖2晶體傳感器安裝在零插入力模塊上
- 測試臺自動化
的測試臺自動化大大簡化了裝有晶體傳感器的Nano-R TM型AFM的操作過程。結合馬達驅(qū)動的光學系統(tǒng)、樣品定位和探針-樣品控制，無需任何手動調(diào)整。因此，便可以實現(xiàn)“放置樣品-設定掃描區(qū)域-開始掃描”的簡單操作過程。
晶體掃描軟件
晶體掃描軟件(CSS)大大簡化了晶體掃描儀的操作。安裝CSS后，實驗人員便可以從窗口菜單上選擇需要成像的樣品類型。有關樣品類型的信息可存儲在計算機內(nèi)，需要時可調(diào)用。例如，CSS可以使用設置的掃描參數(shù)。CSS與測試臺自動化的相結合是一個強有力的工具。舉例來說，當運行CSS時，樣品臺會自動移動到樣品適于成像的位置。CSS也可以將樣品進一步設置成適于視頻光學記錄的位置。 實驗人員必須更換樣品和探針。為了簡化操作過程，幾個視頻系統(tǒng)集成于CSS中。這些配置有利于示意如何更換探針以及放置樣品到成像的位置。軟件接口如圖3所示。 
圖3軟件接口
CSS軟件的算法可用來判斷探針的成像質(zhì)量和優(yōu)化掃描參數(shù)。對某些特殊的樣品，這些算法的運用可設計成樣品信息文件。
的掃描儀設計 使用移動探針的彎曲壓電掃描儀設計可確保精確測量。這樣，在x-y-z軸和圖像間可測量最小的色度亮度干擾，以表明沒有背底彎曲。 外置的x、y、z軸校準傳感器可監(jiān)視彎曲掃描儀的動作。這種傳感器在x、y、z軸線性化和校準掃描儀顯得非常必要。這些傳感器對于點和位置測量也很有必要，對于圖像中某個特殊形貌的放大應用也顯得非常必要。晶體掃描儀的技術參數(shù)如表1。 表1? 晶體掃描儀的技術參數(shù)
| 范圍 | 線性度 | 干擾 | 噪聲 | |||
X-Y | 65 微米 | X-Y-Z | < 1% | XY | < 1% | Vertical < 0.1 nm |
Z | 8 微米 | ZX | < 2% | |||
ZY | < 2% | |||||
與光杠桿傳感器的切換 常規(guī)的AFM使用光杠桿(Light Lever)來測量探針與樣品之間的作用力。盡管光杠桿機構較為復雜且需要調(diào)光路，但也有一些優(yōu)點。其主要優(yōu)點是：可以進行材料敏感模式的測量，如側向力或摩擦力像和相位移成像；另外，還可進行磁力和靜電力成像。 Nano-R TM型AFM測試臺可與光杠桿傳感器兼容。只需幾分鐘便可切換光杠桿傳感器和晶體傳感器。切換安裝后，光杠桿式AFM便可以進行接觸或振蕩模式的形貌像測量。
應用 使用晶體掃描儀的Nano-R TM型AFM可測量各種樣品如工業(yè)樣品和需要高分辨成像的納米結構的形貌像。工業(yè)樣品包括DVD、顯微鏡頭、紙張、光柵和圖形化的芯片。高分辨成像的納米結構包括晶粒、納米粒子、納米晶體和納米管。圖4示出了一些使用晶體掃描儀的AFM形貌像。 
176系列三豐測量顯微鏡
金相顯微鏡
金相顯微鏡
TS-4MPTS-4MP恒溫顯微鏡載物臺
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使用我們的 TS-4MPER 恒溫載物臺，可使顯微鏡玻片或培養(yǎng)皿內(nèi)的樣本溫度保持在 -20 至 +100 °C間的任何溫度。設置簡單，控制器會保證載物臺的溫度浮動范圍在0.1 °C內(nèi)。TS-4MP 是熱電（珀爾帖效應）裝置，無可拆卸部件。無需使用 CO2 或液氮進行制冷。只需交流電和連續(xù)的水流進行操作。有2種型號： 范圍：TS-4MP -20 至 +60 °CTS-4MPER -20 至 +100 °CTS-4MP 包含載物臺、控制器和可選的泵組件：載物臺為鍍鎳銅材質(zhì)，并在一側（參見圖片）設有熱電組件。塑料基座與玻璃片尺寸和厚度相同，適用于顯微鏡的醫(yī)療載物臺，與載玻片使用方式相同。保溫載物臺因此可通過正常機械 載物臺控制根據(jù)光進行移動。金屬片中間的漏洞可允許光通過。 因 Peltier 對載物臺的制冷產(chǎn)生的多余熱量需要用水帶走。兩支水管自我封閉連接以防止濺出。可使用來自水龍頭的流動水。如果水龍頭的流動水不易獲取，我們的水泵和水箱裝置，PTU-3（見第 21 頁）結構緊湊、便于使用。安裝在載物臺上的感應器可提供溫度監(jiān)控以控制目標溫度，并監(jiān)控安全。安全感應器可阻止過熱情況以防制冷流水供應或其他故障帶來的失敗。載物臺的熱電組件控制器可在 5 伏直流電的情況下產(chǎn)生最大 10 安培的電流。當載物臺需從加熱轉變至制冷時，或相反狀況時，輸出極性會自動轉換。在調(diào)整所需溫度過程中，SV 數(shù)字顯示器會顯示控制溫度的選定，同時 PV 顯示器會讀出實際溫度。TS-4MP 的測溫電路也可在獨立溫度計中使用，可同提供的微探針或任何其他類型的 T 型熱電偶傳感器一同使用。單獨的熱電偶微探針于 TS-4 中提供。自選水泵和水箱裝置（PTU-3，見第 21 頁）與控制器后方的輔助 AC 輸出裝置連接。水箱可提供充足的循環(huán)，以保持載物臺兩雙。所有水連接裝置都配有自封裝。 TS-4MP的使用 標準 TS-4 保溫載物臺可適用于多數(shù)顯微鏡，而且跳幀機械載物臺控制。在表面的彈簧夾可用來將載玻片固定在保溫載物臺上？刂破饔袃蓚顯示器？刂茰囟瓤捎煽刂破髑胺降陌粹o進行調(diào)整。溫度選擇可在 SV 數(shù)字顯示器上顯示。實際溫度在 PV 顯示器上顯示。
特點
將樣本溫度保持在 -20 至 +100 °C之間
數(shù)碼顯示設定和操作溫度
控制范圍在 0.1 °C內(nèi)
符合大多數(shù)顯微鏡
內(nèi)置電子溫度計
穩(wěn)固載物臺技術，無移動部件
XTL3400梧州光學體視顯微鏡XTL3400
4XB金相顯微鏡
類別 | 放大倍數(shù) | 數(shù)值孔徑（N．A） | 系統(tǒng) | 工作距離（毫米） |
消色差物鏡 | 10× | 0.25 | 干 | 7.31 |
半平場消色差物鏡 | 40× | 0.65 | 干 | 0.66 |
消色差物鏡 | 100× | 1.25 | 油 | 37 |
類別 | 放大倍數(shù) | 現(xiàn)場直徑（豪米） |
平場目鏡 | 10× | 18 |
12.5× | 15 |
雙目倒置金相顯微鏡_4XB
一、用 途
4XB雙目倒置金相顯微鏡用于鑒別和分析各種金屬和合金材料的組織結構，廣泛應用在工廠或?qū)嶒炇疫M行鑄件質(zhì)量的鑒定；原材料的檢驗或材料處理后的金相組織分析；以及對表面噴涂等一些表面現(xiàn)象進行研究工作。本儀器系倒置式金相顯微鏡，由于試樣被觀察表面與工作臺表面重合，因此與試樣高度無關，使用方便，儀器結構緊湊，外形美觀大方，儀器底座支承面積較大，彎臂堅固，使儀器的重心較低安放平穩(wěn)可靠，由于目鏡與支承面呈45°傾斜，使觀察舒適。
二、規(guī) 格
1．物鏡
| 類 別 | 放大倍數(shù) | 數(shù)值孔徑 (N．A) | 系 統(tǒng) | 工作距離 (mm) |
| 消色差物鏡 | 10× | 0.25 | 干 | 7.31 |
| 半平場消色差物鏡 | 40× | 0.65 | 干 | 0.66 |
| 消色差物鏡 | 100× | 1.25 | 油 | O.37 |
2．目鏡
| 類 別 | 放大倍數(shù) | 視場直徑(mm) |
| 平場目鏡 | 10× | 18 |
| 12.5× | 15 |
3．放大倍數(shù)： 1OO×～1250× 6．粗動調(diào)焦范圍： 7mm
4．機械筒長： 160mm 7．機械工作臺： 75×50mm
5．微動調(diào)焦 8．照明燈泡： 6V12W溴鎢燈
調(diào)節(jié)范圍： 7mm 9．儀器重量： 5㎏
刻度格值： 0.002 mm 10．包裝箱體積： 360×246×350 mm
三、儀器的成套性
1．顯微鏡主體 1臺 6．燈泡(溴鎢燈) 1只(備用)
2．載物臺壓簧 1件 7．目鏡 10×，12.5× 各1只
3．載物片φ10、φ20、φ42 各1片 8．物鏡10×，40×，100× 各1只
4．濾色片(黃色、綠色、 各1片 9．雙目鏡筒 1只
灰色及磨砂玻璃) 10．1O×測微目鏡 1只
5．杉木油 1瓶 11．測微尺(格值0.01mm) 1件
以上信息由山東濟南金相儀器設備有限公司提供，我公司主營：金相顯微鏡、雙目金相顯微鏡、三目金相顯微鏡、正置金相顯微鏡、倒置金相顯微鏡、便攜式金相顯微鏡、雙目體視顯微鏡、三目連續(xù)變倍體視顯微鏡、金相試樣預磨機、金相試樣磨拋機、金相試樣拋光機、金相試樣切割機、金相試樣鑲嵌機、金相耗材，產(chǎn)品型號規(guī)格齊全，歡迎選購！我公司產(chǎn)品暢銷山東、河北、北京、天津、河南、山西、陜西、甘肅、內(nèi)蒙、江蘇、浙江、安徽、湖南、湖北、福建、廣東、四川、上海、重慶、遼寧、吉林、黑龍江、云南、廣西、新疆、西藏等全國各省市地區(qū)。售后服務：設備三包期為正式交貨之日起三年。在三包期內(nèi)，供貨方對設備出現(xiàn)各類故障及時免費維修服務。對非人為造成的各類零件損壞，及時免費更換。保修期外設備在使用過程中發(fā)生故障，供貨方及時積極協(xié)助訂貨方完成免費維修，需要更換配件的，終身成本價供應！
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