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STF-110X射線熒光鍍層厚度測量儀STF-110

品名

X射線熒光鍍層厚度測量儀STF-110

型號

SFT-110

概要

1.即放即測！2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！3.可無標樣測量！4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

特長

［SFT-110的主要特征］ 1. 通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大提高樣品定位的操作性。 2. 微區(qū)膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。 3. 多達5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 4. 廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5. 對應大型印刷線路板（選配） 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 6. 低價位 與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

［主要產(chǎn)品規(guī)格］

檢測器

比例計數(shù)管

X射線源

空冷式小型X射線管

準直器

0.1、0.2mmφ2種

樣品觀察

CCD攝像頭

樣品臺移動量

250（X）×200（Y）mm

樣品最大高度

150mm

該公司產(chǎn)品分類： 手持式熒光分析儀 鍍層測厚儀 熒光分析儀

鍍層厚度測量儀

鍍層厚度測量儀
1.電動的X/Y 桌可以在測量門打開時變速移動X/Y 桌出來給操作員放置樣品及關閉測量門時移動X/Y 桌變速返回到測量位置。
2.高解像彩色攝影機配合強大的放大倍數(shù)功能使樣品的對位十分容易及在測量中也可以監(jiān)視測量的位置。如型號配備了可編測量位置的儀器更有雷射對位裝置來更快速及準確對準樣品的位置測量。
3.開槽式的測量室設計，這可使大塊及平坦的樣品，比測量室還大的，例如：電路板，也可以測量。
4.在整體操作上，在簡易操作及強大功能的電腦WinFTM?軟件下，所有的測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計可以十分清楚地表達出來。
5.符合美國的出口規(guī)定，軟件是儀器的基本操作.此軟件可以同時間測量最多至四層鍍層、或是進行多至5元素的合金分析、又或是最多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。
6.在不使用標準片做校正的情況下，可以達至一個相當不錯的測量結果。
7.測量的準確度是可以用標準片校正來提高，程式是可以接受多至64個標準片來做校正，標準片校正也可以保證測量可以有追溯性。
鍍層厚度測量儀由于X光測厚儀是在線測量儀表，檢測的厚度是鋼板熱態(tài)時的厚度，這樣會和冷態(tài)時的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補償系數(shù)。使在線測量的數(shù)據(jù)與冷態(tài)時保持一致。同樣如果軋制材質(zhì)有變化時，也會給測量帶來誤差。這時只需將不同材質(zhì)的樣板進行檢測，計算出合金補償系數(shù)，也可以使測量數(shù)據(jù)和實際材質(zhì)厚度保持一致。
鍍層厚度測量儀精密度測試，精密度表示對同一個對象進行多次測量，表征測試結果分散程度的物理量，它是一個與多次測試數(shù)據(jù)的標準偏差有關的物理量。目前，對一組具有嵌套性或不具有嵌套性的數(shù)據(jù)的標準偏差求解問題的研究已經(jīng)相當成熟，對測量設備精密度的研究可以轉(zhuǎn)化為對測量設備測試數(shù)據(jù)標準偏差的求解。使用成熟的數(shù)據(jù)處理方法研究比較新的高精度設備的精密度是一種簡單可行而又科學的方法。
聯(lián)系人: 舒翠 
手機:  13602568074
電話:   
傳真:   
郵箱:  sc@kinglinhk.net 
地址:  寶安區(qū)沙井北環(huán)大道110號新橋綜合大樓502 
該公司產(chǎn)品分類： 膜厚儀

天津MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀技術參數(shù)

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀

陶瓷磚厚度測量儀用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產(chǎn)品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量，具有精度高、讀數(shù)、操作簡便、攜帶方便等優(yōu)點，是有關生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。

陶瓷磚厚度測量儀技術參數(shù)     

1.測厚儀的精度：±0.1mm

2.測厚儀的測量范圍：

規(guī) 格

最大測量范圍（長×寬）

最大測量厚度

CHD-1000

1000×1000mm

25 mm

CHD-600

600×600 mm

18 mm

 

 

該公司產(chǎn)品分類： 瀝青儀器類 瀝青乳化瀝青類 瀝青集料類 瀝青混合料乳化瀝青類 瀝青混合料類 瀝青混凝土檢測系列 陶瓷磚測試儀器系列 水電水利粗粒土系列 巖石檢測儀器系列 波紋管及管材系列 建筑防水材料系列 建筑保溫材料系列 土工布系列

SFT-110X射線熒光鍍層厚度測量儀

概述：

    即放即測；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量；

    可無標樣測量；通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

 

主要特點：

  1.通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大

    提高樣品定位的操作性。   2.微區(qū)膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

    度提高膜厚測量的精度。   3.多達5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。   4.廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。   5.對應大型印刷線路板（選配） 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。   6.低價位 與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

 

產(chǎn)品規(guī)格：

   

該公司產(chǎn)品分類： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測厚規(guī) 測長儀 數(shù)碼工程打印機 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗機 除銹油 美國施泰力 東京精密 三坐標測量機 涂層測厚儀 鍍層測厚儀 測量投影儀、影像測量儀 電子天平、水分測試儀 色差、光澤計 齒輪測量儀 顯微鏡、內(nèi)窺鏡

CHD陶瓷磚厚度測量儀

型        號：CHD－600   CHD－1000測 量  厚 度：0～25mm測 量  精 度：±0.02mm測量最大尺寸：CHD－600    600＊600mm              CHD－1000   1000＊1000mm用        途：主要用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚的厚度，也可用于其他材料（如馬賽克、水泥磚等）產(chǎn)品厚度的測量。本機采用螺旋微頭進行測量，具有精度高，使用方便等優(yōu)點。

電話：0732-8534226.13973204170

傳真：0732-8566381

網(wǎng)扯：http://www.hnhryq.com/

快速在線厚度測量儀

產(chǎn)品特性：1， 非接觸式測量，對樣品要求不苛刻，象一些水性涂料和膠水均可測試2， 精確測試每層厚度3， 可以得到透明樣品的總膜厚度4， 測試反饋速率最大4KHz5， 重復性：100---300nm，因表面結構應用而異6， 光斑尺寸小，在高難度入射角度下實現(xiàn)測量。產(chǎn)品規(guī)格：hspace=01，最大反饋獲取速率：4kHz2，工作距離（fix）：2--44mm3，光斑尺寸（model 80/300）：5--20um4， 每層最小厚度：8—10um5， 重復性（在1kHz獲取速率下）：+/-0.3um 6， 靜態(tài)精度（在0.1kHz獲取速率下）：+/-0.05um7， 最大測試厚度（平均折射率：1.5）：300um 8， 測試波長（model 80/300）：830/1300nm

橡膠密封件厚度測量儀

 

汽車密封件鍍涂層測量儀是上海長方儀器廠將傳統(tǒng)的光學顯微鏡與計算機（數(shù)碼相機）通過光電轉(zhuǎn)換器有機地結合在一起，不僅可以通過目鏡進行觀察，還能在電腦顯示屏上觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、測量分析、保存和打印。http://www.shchfang.com/MFJ.htm
 
橡膠密封件是密封裝置中的一類通用基礎元件, 在泄漏和密封這一對矛盾中扮演十分重要的角色,其應用十分廣泛,.在橡膠密封件表面進行電鍍,可以增強橡膠密封件很多性能,比如:可以使密封件表面光澤, 改善密封性能,摩擦性能,耐壓性能,增加密封件的工作的性和使用壽命! 因些在橡膠密封件表面進行電鍍的技術越來越重要! http://www.shchfang.com/mfj.htm
上海長方光學儀器廠針對橡膠密封件表面的鍍層的測量專門開發(fā)一套鍍層測厚儀. 整套測量系統(tǒng)儀由顯微觀察、測量分析系統(tǒng)等單元組成。檢測人員不僅可以十分方便地在計算機上測量橡膠密封件表面的厚度,還能將測量的數(shù)據(jù)與圖片一起進行保存,形成圖文并茂的報告!
 橡膠密件件涂度測量儀主要參數(shù): http://www.shchfang.com/MFJ.htm
儀器型號: 普通型:MFM-400 型: MFM-600
1.目鏡:10X 2.物鏡: 5X 10X 20X 40X http://www.shchfang.com/mfj.htm
3.光學放大倍數(shù)：50X 100X 200X400X,,4.系統(tǒng)參考放大倍數(shù)：50X-2600X
5.落射照明器：6V/20W鹵素燈，220V（50Hz）亮度可調(diào)
6.濾色片組：轉(zhuǎn)盤式、黃色、藍色、綠色、磨砂玻璃
7.偏光裝置：可插入式起偏振片和三目頭內(nèi)置檢偏振片
8.載物臺移動范圍：縱向50mm；橫向75mm
9.調(diào)焦系統(tǒng)：帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm
10.鍍層鑒別系統(tǒng)http://www.shchfang.com/mfj.htm
11.測量范圍: 0.5um—1000um; 測量精度:1um
 
上海長方光學儀器廠   http://www.shchfang.com/MFJ.htm
 
該公司產(chǎn)品分類： 顯微鏡 1

廠源儀器電鍍層厚度測量儀鍍層膜厚測厚儀_測厚儀

產(chǎn)品說明、技術參數(shù)及配置
儀器介紹Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。性能特點滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護技術指標型號：Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg標準配置開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機應用領域黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。
天瑞儀器優(yōu)勢
一、品牌
天瑞在1992年研發(fā)出了中國臺能量色散X射線熒光光譜儀，至今已經(jīng)有25年以上經(jīng)驗積累，目前是國內(nèi)一家真正有實力自主研發(fā)光譜儀及上市的公司，目前公司市值已超百億，在全國擁有多家子公司，團隊規(guī)模達3000人，成為中國乃至世界檢測分析行業(yè)的引領者和知名品牌。
二、軟硬件
1天瑞每年耗巨資研發(fā)軟件，對所有客戶軟件終身免費升級，做到時時跟進歐盟環(huán)保指令，讓客戶買的儀器終生不過時。
 2天瑞儀器的主要三大核心配件均來自美國進口，天瑞嚴格杜絕利用翻新配件和國產(chǎn)劣質(zhì)配件，在業(yè)內(nèi)樹立了誠信經(jīng)營的企業(yè)形象。
三、客戶
天瑞儀器在環(huán)保測試領域占據(jù)80%以上的市場份額，得到了絕大客戶的，是三星，華為，創(chuàng)維，格力，美的，富士康等大型企業(yè)的測試儀。
四、儀器精度
天瑞儀器創(chuàng)始人是原清華大學核物理研究院劉博士，他掌握了世界的光譜、質(zhì)譜、色譜三大核心技術，對產(chǎn)品要求精益求精，把儀器的度管制在99.99%，檢出限可達1ppm，重復穩(wěn)定性達到0.1%以內(nèi)，在同行相比天瑞技術。
五、售后服務
天瑞儀器在全國各省市建立了完善的服務網(wǎng)點，為所有的客戶服務做到及時周到，售后服務2小時內(nèi)響應，并上門快速解決問題，提供儀器終身維護保養(yǎng)。 （與天瑞大公司，大品牌合作沒有后顧之憂，我們讓客戶買的放心、用的安心。天瑞為您的企業(yè)發(fā)展之路保駕護航。
該公司產(chǎn)品分類： 原子吸收分光光度計 AAS 原子熒光光譜儀 AFS 光電直讀光譜儀 OES 等離子體發(fā)射光譜儀 ICP 飛行時間質(zhì)譜聯(lián)用儀 iTOFMS 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS 液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 LC-MS 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 GC-MS 波長色散X熒光光譜儀 WDX 能量色散X熒光光譜儀 XRF 電子電器 玩具檢測儀器 金屬合金 鋼鐵 汽車檢測 銅合金檢測儀器 ROHS環(huán)保檢測儀 高效液相色譜儀 鍍層測厚儀器 液相色譜儀

2016款南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢

1、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢熱門搜索:YG141數(shù)字式織物測厚儀YG141數(shù)字式織物測厚儀Tellus型紡織品壓縮回復性能測試儀【河北潤聯(lián)科技公司】10年品牌“潤聯(lián)”★★工業(yè)品領導者★★2014年高新技術企業(yè)★★2013年有潛力企業(yè)榮譽★★河北誠信民營企業(yè)單位★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號，熱線：【】2、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢多種型號圖片
型號:RL046081YG141數(shù)字式織物測厚儀型號:RL046082YG141數(shù)字式織物測厚儀型號:RL046111Tellus型紡織品壓縮回復性能測試儀
【南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢一共有★★30★★多種型號以上只顯示1-3種型號，如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 邢臺潤聯(lián)機械設備有限公司】3、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢多種型號內(nèi)容型號:RL046081YG141數(shù)字式織物測厚儀

主要用于各類紡織品和紡織制品厚度測定，亦可用于其他均勻薄料的厚度測定。

主要技術指標：

1.測定厚度范圍：

YG141L型 0.01～10mm

YG141LA型0.01～20mm

2．小分度值：0.01mm

3．壓腳直徑及面積：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm

100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2

4．壓重砝碼：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只）

5．壓重時間：10s、30s重要提醒：GB/T3820新標準已經(jīng)實施，敬請選型注意，老標準指標如下：

主要技術指標：（請比較）

1.測定厚度范圍：0.01～10mm

2．小分度值：0.01mm

3．壓腳直徑：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm

4．壓重砝碼：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只）

5．壓重時間：10s、30s

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46081-pid-5767.htmlYG141數(shù)字式織物測厚儀型號:RL046082YG141數(shù)字式織物測厚儀

主要用于各類紡織品和紡織制品厚度測定，亦可用于其他均勻薄料的厚度測定。主要技術指標： 1.測定厚度范圍： YG141L型 0.01～10mm YG141LA型0.01～25mm 2．小分度值：0.01mm 3．壓腳直徑及面積：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm 100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2 4．壓重砝碼：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只） 5．壓重時間：10s、30s重要提醒：GB/T3820新標準已經(jīng)實施，敬請選型注意，老標準指標如下：主要技術指標：（請比較） 1.測定厚度范圍：0.01～10mm 2．小分度值：0.01mm 3．壓腳直徑：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm 4．壓重砝碼：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只） 5．壓重時間：10s、30s

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46082-pid-5767.htmlYG141數(shù)字式織物測厚儀型號:RL046111Tellus型紡織品壓縮回復性能測試儀

【適用范圍】：

Tellus型紡織品壓縮回復性能測試儀可對紡織品厚度及壓縮回復性能測試。本機具有通用的測試平臺，配置了多種系列的壓腳，滿足多指標（厚度、壓縮回復性能）、多標準、多產(chǎn)品的測試，真正實現(xiàn)了一機多用。

【符合標準】：

GB/T 24442.1-2009 紡織品 壓縮性能測定 第1部分：恒定法

GB/T 24442.2-2009 紡織品 壓縮性能測定 第2部分：等速法

FZ/T 64017-2011、FZ/T 64020-2011、FZ/T 64003-2011、GB/T 22796-2009、GB/T 24252-2009

FZ/T 81005-2006、GB/T 3820-1997、GB/T 13761.1-2009、QB/T 1089-2001、QB/T 1092-2001

GB/T 24218.2、GB/T 8168-2008

【儀器特性】：

1、儀器采用等速伸長（CRE）測試原理，雙立柱龍門結構，鋁合金外殼外形美觀整潔。

2、傳動機構采用進口滾珠絲桿組、同步帶、同步輪、交流伺服系統(tǒng)，運行穩(wěn)定，噪音小。

3、采用進口高精度測力傳感器，高速精密24 bits A/D，儀器采樣頻率為1000HZ，能及時準確撲捉試驗的受力變化。

4、位移采用高精度位移光柵尺測量，精度高并排除了傳動機構和保護裝置產(chǎn)生的誤差。

5、采用32位cortex-m3微處理器，操控性強，數(shù)據(jù)處理速度快，儀器反應靈敏，運行穩(wěn)定可靠。

6、全計算機專業(yè)軟件操控，軟件系統(tǒng)：操作簡單、易懂、功能強大。

【技術參數(shù)】：

1、速度調(diào)節(jié)范圍：0.1～200mm/ min

2、位移：250mm

3、位移誤差：0.01mm

4、測力范圍：滿量程的1%～100%

5、測力精度：0.2%FS

6、壓腳平行度：0.1%

7、工作電源：AC220V 50HZ 450W

8、外形尺寸：7252175cm

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46111-pid-5767.htmlTellus型紡織品壓縮回復性能測試儀聯(lián)系方式:0319-8277762溫馨提示：潤聯(lián)網(wǎng)為您提供產(chǎn)品的詳細產(chǎn)品價格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時請說明是在潤聯(lián)網(wǎng)看到的，并告知型號
該公司產(chǎn)品分類： 商業(yè)機械 實驗室儀器 農(nóng)業(yè)機械 探測儀器 勘探儀器 工程機械 儀器儀表

ST4080-osp osp厚度測量儀

ST4080-OSP（有機可焊性保護膜）專用于測量PCB/PWB上銅鉑厚度。它屬于使用分光反射法的非破壞性光學測量儀，它可提供平均厚度和詳細的3D平面輪廓資料，使得實時檢測無需任何的樣品制備。  由于ST4080-OSP具有測量很小面積與自動聚焦功能，適用于PCB基板表面的實模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測量技術，而它在半導體，平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的性得到了證實。  為什么要選擇 ST4080-OSP?  ST4080-OSP使用反射測量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實時測量。  ST4080-OSP 無需樣品制備，可確？焖俸秃啽悴僮。  ST4080-OSP測量的光斑尺寸可減小到0.135，這使得它可測量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度.   ST4080-OSP 與紫外可見分光計，受迫離子束方法，時序電化學還原分析還有其他的測量方法相比較，它基于更的測量技術。  ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內(nèi)的多波長光譜。  ST4080-OSP可提供各點和它們的平均厚度的詳細數(shù)據(jù)，這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。  ST4080-OSP 通過3D表面形態(tài)學將測量程序化。

 

在電路行業(yè)，有機可焊性保護膜（OSP）涂層的使用對保護銅表面防止氧化是必需的。關于RoHS指令，該保護膜涂層要求無鉛適用，易加工和低成本。它的標準厚度測量范圍是0.1~0.5μm。ST4080-OSP 通過分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之間的光譜干涉來測量薄膜厚度。ST4080-OSP 同時測量多個光斑，并以輪廓形式顯示厚度測量結果。ST4080-OSP有兩種光學透鏡。用戶可使用5倍的光學透鏡方便地進入詳細模式的自選區(qū)域，再通過使用50倍的光學透鏡獲取詳細厚度輪廓。

技術參數(shù)：

波長范圍
420nm-640nm
測量范圍
0.035-3um
最小光斑尺寸
1.35 , 0.135
測試面積
864X648 /86.4X64.8
放大倍數(shù)
5X，50X
測量層
1
Z軸再現(xiàn)性
± 1

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